- 介电常数介质损耗测试仪生产厂家
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仪器型号:LJD-B型 介电常数介质损耗测试仪生产厂家
一、简介:介电常数介质损耗测试仪生产厂家
LJD-B型 绝缘材料介电常数测试仪 由S916测试装置(夹具)、LJD-B/C型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件(装入LJD-B或LJD-C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用LJD-B或LJD-C数字Q表具有自动计算介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)。
LJD-C介电常数/介质损耗测试系统系统组成:
二、主机:LJD-B/C 高频Q表
功能名称:
LJD-B
LJD-A
LJD-C
信号源范围DDS数字合成信号
10KHZ-70MHz
10KHZ-110MHz
100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比
7000:1
11000:1
16000:1
信号源频率精度 6位有效数
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
Q测量范围
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
Q分辨率
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差
<5%
<5%
<5%
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH
1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
1nH-8.4H 分辨率0.1nH
1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差
<5%
<5%
<5%
调谐电容
主电容30-540pF
主电容30-540pF
主电容17-240pF
电容直接测量范围
1pF~2.5uF
1pF~2.5uF
1pF~25nF
调谐电容误差
分辨率
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
谐振点搜索
自动扫描
自动扫描
自动扫描
Q合格预置范围
5-1000声光提示
5-1000声光提示
5-1000声光提示
Q量程切换
自动/手动
自动/手动
自动/手动
LCD显示参数
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能(*)有
有
有
大电容值直接测量显示功能(*)
测量值可达2.5uF
测量值可达2.5uF
测量值可达25nF
介质损耗系数
精度 万分之五
精度 万分之五
精度 万分之五
S916(数显)或S914介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)
液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
三、LKI-1电感组
电感No
电感量
准确度%
Q值≥
分布电容约略值
谐振频率范围 MHz
适合介电常数测试频率
LJD-B
LJC-C
1
0.1μH
±0.05μH
200
5pF
20~70
31~103
50MHz
2
0.5μH
±0.05μH
200
5pF
10~37
14.8~46.6
15MHz
3
2.5μH
±5%
200
5pF
4.6~17.4
6.8~21.4
10MHz
4
10μH
±5%
200
6pF
2.3~8.6
3.4~10.55
5MHz
5
50μH
±5%
200
6pF
1~3.75
1.5~4.55
1.5MHz
6
100μH
±5%
200
6pF
0.75~2.64
1.06~3.20
1MHz
7
1mH
±5%
150
8pF
0.23~0.84
0.34~1.02
0.5MHz
8
5mH
±5%
130
8pF
0.1~0.33
0.148~0.39
0.25MHz
9
10mH
±5%
90
8pF
0.072~0.26
0.107~0.32
0.1MHz
注意: 可定制100MHz电感.
LKI-1电感组是测试作辅助用的,它含有9个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值,各电感的电感量等数据如附表一。
附表一 LKI-1电感组,LJD-B/LJD-C选配电感
电感No
电感量
准确度%
测试
频率
Q值
±10%
分布电容
约略值
备注
1
0.1μH
0.05μH
50MHz
180
5pF
2
0.5μH
0.05μH
15MHz
200
5pF
3
2.5μH
±5
10MHz
193
5pF
4
10μH
±5
5MHz
217
6pF
5
50μH
±5
1.5MHz
188
6pF
6
100μH
±5
1MHz
192
6pF
7
1mH
±5
500kHz
192
8pF
8
5mH
±5
250kHz
111
8pF
9
10mH
±5
100kHz
91
8pF
10
0.05μH
±5
100MHz
220
5pF
另选
上述Q值是在BQG-2标准线圈为基准比较测得,电感值未扣除主机的残余电感.,LJD-B残余电感为0.025μH。
主机是根据串联谐振和电压比值原理工作的,主机的指示Q值是包括被测件的有效Q值及测试回路固有残量在内的整个谐振回路有效Q值,必须用主机测试回路残量修正主机的指示Q值,这是主机测量的一个重要特点。
在一般情况下,主机作为低精度仪器使用或利用主机对线圈作比较测量时,可不必对残量的影响进行修正。
主机的Q值测量误差可按Q值参考标准不同分为二类。
我厂采用的一种是以主机生产厂家所提供并经计量部门审核的均值回路标准指示值Qen为参考标准,主机指示Q值Qi的相对误差由下式表示:
δQi=[(Qi-Qen)÷Qen]× 100%
式中Qi为标有Qen值标准量具在主机上的实际指示值。
注:修正系数主要用于用户测量一个器件Q值时,根据指示的
Qi值换算出较准础的Q值。
附表二 各Q值均值回路指示值
和测试回路平均残量修正系数表
线圈号
测试
频率
Qe
BQG-2
(No.81014)
LJD-C
修正
系数
1
100kHz
114
2
400kHz
135
135
1
3
1MHz
134
134
1
4
2MHz
154
4.5MHz
183
183
1
5
4.5MHz
170
12MHz
237
237
1
6
12MHz
234
25MHz
305
275
0.90
7
25MHz
218
50MHz
257
257
1
Qe:标准有效Q值
LJD-B型主机在测试Q值时,已对测试回路的残量作了修正,故不再需要对Q值进行均值修正。
七、产品的交收检验
1.检验环境要求
a.环境温度:20℃±2℃,相对湿度<50%;
b.供电电源:220V±10V,50Hz±1Hz;
c.被检设备要预热30分钟以上。
2.检验设备要求
a. 设备应在计量后的有效使用期内;
b. 检验设备应按仪器规定预热。
b.从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端;
3.Q值指示检验
a.检验设备:BQG-2标准线圈一套;
b.把标准Q值线圈接入LJD-B/LJD-C主机电感接线柱上;
c.选择标准Q值线圈所规定的检定频率;
d.LJD-B/LJD-C主机的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。
4.调谐电容器准确度检验
a. 测试时如发现干扰,应断开内部信号源;
b.设备连接如图十所示,连接线应尽量短,尽可能减小分布电容;
图 十
c.电容测试仪技术指标
测试范围:10-550pF,±5pF; 测试精度:10-550pF±0.1%
如果使用LCR电桥测试,应保证电桥与被测主机之间地线和外壳的绝缘隔离。
d.调谐电容器显示的指示值与电容测试仪指示值之间误差应符合二.3条的规定。
5.频率指示误差检验
a.设备连接如图十一所示:
图 十一
c.频率计数器技术要求
测量范围:10Hz-1000MHz;
测量误差:<1×10-6;
测量灵敏度:<30mV。
d.测试线要求:高频电缆SYV-50-3;
e.主机频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4条的规定。
附:贴片元件测试夹具使用方法
当采用我公司生产的LJD-B及LJD-C主机及配上相应的贴片元件测试夹具时可对贴片电容及贴片电感进行电容量、电感量及Q值、tgδ值的测量,测量时只要将测试夹具接入相应的Lx或Cx接线柱内,然后按说明书中“3”高频线圈电感值的测量及“5”电容器电容量的测量方法进行测量。
注意:因贴片元件尺寸较小,规格又不尽相同,因此放入夹具时应保持尽量居中并保证接触良好。
在测量小电感时,为了测试值的正确性,测得的读数应减去仪器的测试回路的剩余电感值,LJD-B约26nH,LJD-C约7nH(包括测试夹具)。直接采用本仪器新增的自身残余电感和测试引线电感的扣除功能,能获得佳的测试精度。