- 介电常数测试仪器
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介电常数测试仪器
介电常数/介质损耗测试系统系统组成:
1. 主机:LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表
功能名称:
LJD-B LJD-A
LJD-C
信号源范围DDS数字合成信号
10KHZ-70MHz
10KHZ-110MHz
100KHZ-160MHz
信号源频率覆盖比
7000:1
11000:1
16000:1
信号源频率精度 6位有效数
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
3×10-5 ±1个字
采样精度
11BIT
11BIT
12BIT
高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性
Q测量范围
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
1-1000自动/手动量程
Q分辨率
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
4位有效数,分辨率0.1
Q测量工作误差
<5%
<5%
<5%
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH
1nH-8.4H , 分辨率0.1nH
1nH-8.4H 分辨率0.1nH
1nH-140mH分辨率0.1nH
电感测量误差
<3%
<3%
<3%
调谐电容
主电容30-540pF
主电容30-540pF
主电容17-240pF
电容直接测量范围
1pF~2.5uF
1pF~2.5uF
1pF~25nF
调谐电容误差
分辨率
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
±1 pF或<1%
0.1pF
谐振点搜索
自动扫描
自动扫描
自动扫描
Q合格预置范围
5-1000声光提示
5-1000声光提示
5-1000声光提示
Q量程切换
自动/手动
自动/手动
自动/手动
LCD显示参数
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
F,L,C,Q,Lt,Ct波段等
自身残余电感和测试引线电感的
自动扣除功能()有
有
有
大电容值直接测量显示功能()
测量值可达2.5uF
测量值可达2.5uF
测量值可达25nF
介质损耗系数
精度 万分之三
精度 万分之三
精度 万分之一
最小介损系数
万分之一
万分之一
万分之一
介电常数
精度 千分之一
精度 千分之一
精度 千分之一
材料测试厚度
0.1mm-10mm
0.1mm-10mm
0.1mm-10mm
USB接口
不支持
不支持
支持
介电常数测试仪器
2. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
固体:材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选;厚度可调 ≥ 15mm (二选一)
液体:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm(选配)
3. LKI-1电感组
电感No
电感量
准确度%
Q值≥
分布电容约略值
谐振频率范围 MHz
适合介电常数测试频率
LJD-B-A
LJD-C
1
0.1μH
±0.05μH
200
5pF
20~70
31~103
50MHz
2
0.5μH
±0.05μH
200
5pF
10~37
14.8~46.6
15MHz
3
2.5μH
±5%
200
5pF
4.6~17.4
6.8~21.4
10MHz
4
10μH
±5%
200
6pF
2.3~8.6
3.4~10.55
5MHz
5
50μH
±5%
200
6pF
1~3.75
1.5~4.55
1.5MHz
6
100μH
±5%
200
6pF
0.75~2.64
1.06~3.20
1MHz
7
1mH
±5%
150
8pF
0.23~0.84
0.34~1.02
0.5MHz
8
5mH
±5%
130
8pF
0.1~0.33
0.148~0.39
0.25MHz
9
10mH
±5%
90
8pF
0.072~0.26
0.107~0.32
0.1MHz
10
14NH
±5%
80
8pF
100MHZ
注意: 可定制100MHz电感.
LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值
三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:
1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
四 介电常数和介质损耗界面显示
LJD-C介电常数显示
LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示